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【2h】

Characterization of deep N-well CMOS MAPS for the ILC Vertex Detector

机译：用于ILC顶点检测器的深N阱CMOS MAPS的特性

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作者
Traversi, G; Manghisoni, M; Re, V; Ratti, L; Speziali, V;
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年度 2007
总页数
原文格式 PDF
正文语种 eng
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3. Characterization of Bulk Damage in CMOS MAPS With Deep N-Well Collecting Electrode [J] . Zucca S., Ratti L., Traversi G., Nuclear Science, IEEE Transactions on . 2012,第4期

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